(株)三井化学分析センター

  • 展示会:
    第10回[国際]二次電池展
  • 小間番号: W4-39

微量・微小分析

微量・微小分析
微量・微小分析

詳細

  1. 製品のセールスポイント
    新製品・新技術
  2. 製品特長 LiおよびLi化合物の検出と可視化
  3. 高感度EDSでは数十nmの空間分解能で元素マッピング可能です。また、C、N、Oなど軽元素にも感度が良く、Liの検出も可能です。一方、TOF-SIMSではppmオーダーの検出下限で有機分子イオンおよびフラグメントの情報を得ることができ、マッピングも可能です。これらの装置で電極中の添加剤や変性物・劣化物の分布を可視化します。

  4. 製品カテゴリー: 部品・材料、検査・試験・評価、二次電池・蓄電技術

その他 製品・サービス

  • SEI解析

  • 電解液分析

  • 活物質分析

※上記の情報は来場ユーザーから出展社への事前アポイント申請用に公開しています。
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来場に関して

お問合せ先

03-5302-3142

10:00 ~ 18:00
(土日祝・12/29~1/3を除く)

wsew-vis@reedexpo.co.jp

事前登録により通常5,000円の招待券が無料に

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